“横河电源开发测试处理方案—环境与耐久测试”

环境和耐久测试的目的

高质量的电源除了高性能、高能效之外，还需要高可靠性。 中采用的功率器件会受采用的环境和状况的影响，从而影响产品的整体电气性能和采用寿命。 这是因为在开关电源的开发和生产过程中，为了确保产品的充分稳定性、可靠性和采用寿命，需要进行环境和耐久测试，以测试不同采用环境下的电源性能。

环境和耐久测试项目和复印

开关循环试验

元件温度上升测试

高/低温操作测试

高/低温存储测试

低温启动测试

温度循环测试/冷热冲击测试

零件温度上升试验:

开关电源在动作中，内部元件的温度会上升。 温度超过规定值时，内部元件的寿命会缩短或破损。 由于这需要零部件的温升试验，开关电源将测试规定的工作环境、电压、负载条件下零部件的温升情况。

测试条件:将被测电源置于规定的环境温度，根据线路状况，先查明温升率高的元件，再将热电偶贴在元件表面。 设定规定的输入电压、频率、输出负载后接通电源，记录输入功率和输出电压。 然后，用记录仪记录元件的温度上升曲线，直到温度上升稳定为止。

高低温测试:

由于开关电源内部的器件的温度膨胀系数不同，温度变化会影响整体性能，加速设备的老化，缩短采用寿命。 这是因为需要进行高低温测试以测试电源内部设备在极端采用环境下的耐久性。 试验项目包括高/低温操作测试、高/低温存储测试、低温启动测试、冷热冲击测试。

启动延迟时间测试:

开关电源采用的半导体功率器件在接通电源时和切断电源时都会受到冲击。 因此，需要对开关电源进行电源开关循环试验，在电源满载的状态下测试其是否能够连续承受开关操作带来的冲击，以确保电源的耐久性。

测试条件:被测电源置于室温环境中，输入电压115vac/230vac，输出负载满载。 打开被测量电源开关5秒钟，然后关闭开关5秒钟，重复该过程。 一次开关的过程是一个测试周期，整个试验至少需要持续5000个周期。 试验中每完成1000个循环，记录被测量开关电源的输入功率和输出电压。 试验结束后，如果待测产品在试验前后的电气性能没有差异，则通过该试验。

这需要测试设备具有足够长的存储空间，以实现长时间的波形捕获，同时保持较高的采样率。

igbt (绝缘栅双极晶体管)具有mosfet器件驱动电力小、开关速度快的优点(控制和响应)和双极器件的饱和电压低、容量大的优点)功率电平持久) 在igbt的栅极-发射极之间施加驱动正电压时，mosfet导通，pnp晶体管的集电极-基极之间成为低电阻状态，晶体管导通； 当igbt的栅极-发射极间电压变为0v时，mosfet截止，切断pnp晶体管的基极电流的供给，使晶体管截止。 因此，igbt的安全性是否可靠主要由以下因素决定:

igbt栅极和发射极、集电极和发射极间的电压

流过igbt集电极-发射极的电流

igbt结温度

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